2. 上海理工大学 材料科学与工程学院,上海 200093;
3. 宝山钢铁股份有限公司 炼铁部,上海 200941
2. School of Materials Science and Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China;
3. Ironmaking Department, Baoshan Iron & Steel Co., Ltd., Shanghai 200941, China
焦炭在高炉中的主要作用有热源、供碳、还原以及支撑骨架作用[1]。相比于其他炉料,焦炭在高炉中的堆积密度要小一些,使得焦炭在堆积时具有较大的孔隙度,所以焦炭在高炉中也具有疏松炉料的作用。这有助于高炉中的气体上行、炉料下降、气流均匀,焦炭的这一作用已成为高炉顺行的首要条件。焦炭质量的优劣制约着焦炭的炉料骨架作用,直接影响炼铁业发展[2-7]。
炼焦过程中炼焦煤的芳香核上的侧链不断脱落分解,芳香核则缩合并稠环化,形成了微晶结构,因此焦炭气孔壁基本单元是微晶夹杂煤中残留的无机矿物[8]。X射线衍射仪(X-ray diffractometer,XRD)是研究焦炭晶体结构的一种重要手段,可以定量分析焦炭微晶的层间距、堆积高度及片层尺寸大小[9-10]。焦炭作为一种特殊的炭材料,其微晶结构的准确表征一直是个难题,焦炭成分复杂,导致其结构极端不均匀,这为其微观测试带来了很大困难[11],通常需要进行充分粉碎才可测试。国标法要求粒径在200目以下(约76 μm),然而实际测试中粒径要远小于此,通过文献检索发现各不相同。Gupta等指出要将样品粉碎到小于45 μm进行测试[12];Feret[13]和Smedowski等[14]对样品的要求则是分别粉碎至20 μm和3 μm。
本文将同一焦炭样品(简称焦样)粉碎成不同的粒径,分别进行XRD测试,以期探讨不同粒径对XRD测试结果的影响。
1 试验部分 1.1 样品制备将一定量经过干燥的焦样放入粉碎机,首先将焦样粉碎50 s,取出部分待测试,其他焦样继续粉碎30 s,得到粉碎时间为80 s的焦样,采用相同的方法制备不同粉碎时间的焦样。粉碎时间分别为50,80,100,130,150,180,200,300,400,500,600和1 800 s。
1.2 试验设备采用Quanta FEG450场发射环境扫描电子显微镜(scanning electron microscope, SEM)对焦样的显微组织进行表征。采用TECNAI F30透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)观察焦样的内部结构。采用D8 Advance Bruker XRD设备测试焦样的晶体结构。采用Mastersizer 2000型激光粒度分析仪测试焦样的粒度分布情况。
2 结果与分析 2.1 TEM分析焦样的TEM分析结果见图1。由图1(a)可知,焦样的内部结构非常不均匀,既有高度晶化的片层状碳结构,又有大量的非结晶碳。从图1(b)中也可看到类似的现象,说明焦样的内部结构复杂多变,没有一定的规律性,并缺乏均匀性。
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图 1 焦样的TEM图 Fig. 1 TEM images of coke |
焦样粉碎不同时间粒度分析结果见图2。由图2(a)可知,焦样的粒径随着粉碎时间的延长,平均粒径减小,并且粒径分布变窄。由图2(b)可知,当粉碎时间从30 s延长到100 s,焦样的粒径先快速减小,后缓慢减小,直到延长至500 s以后,焦样的粒径基本不再变化。
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图 2 焦样粉碎不同时间粒度分析曲线 Fig. 2 Particle size analysis curves of the coke crushed for different times |
粉碎时间为50,100,300和500 s时粒径差别比较大,测试得到焦样的平均粒径分别为30.20,11.48,3.80和2.51 μm。
2.3 SEM分析对所选焦样进行SEM测试,观察焦样的形貌及粒径分布,结果见图3。
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图 3 粉碎不同时间焦样的SEM图 Fig. 3 SEM images of the coke crushed for different times |
由图3(a)可知,焦样的粒径分布范围较大,随机测量若干粒径,小的粒径为23.40 μm,大的粒径为37.10 μm,相差13.70 μm。通过计算,最终得到焦样的平均粒径为30.63 μm。图3(b)中焦样粒径分布范围较窄,随机标注的最大粒径和最小粒径差为9.97 μm,得到大致的平均粒径为10.78 μm。图3(c)和图3(d)标注最大粒径和最小粒径差分别为2.46 μm和2.24 μm。由图3(c)和图3(d)计算得到的焦样平均粒径分别为3.60 μm和2.67 μm。虽然焦样粒径不一,分散程度不等,但是随着研磨时间的延长,焦样粒径不断减小,粒径的分布逐渐变窄,这与激光粒度分析仪测试结果一致。
2.4 XRD分析对粒径为30.20,11.48,3.80和2.51 μm的焦样进行XRD测试,结果见图4。由图4可见知,各焦样的峰形基本一致。但随焦样粒径的减小,峰强度会略有变化,峰型也略有偏移。由此可知,粒径不同,会造成XRD谱图峰强度和峰型的偏移,但偏移的角度和方向没有规律,峰强度的改变幅度也无定向性。这种无规律的偏移和改变对于焦样微晶结构参数的计算有很大影响。
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图 4 不同粒径焦样的XRD谱图 Fig. 4 XRD patterns of the coke samples with different particle sizes |
粉碎相同时间的焦样,取样5次分别进行XRD测试,计算出被测试焦样的片层数(n),结果见图5。根据文献[15]中的计算方法,对每个焦样进行5次测试,求出不同粒径下焦样的堆积高度(Lc)和微晶的层间距(d002),通过Lc和d002计算片层数n。
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图 5 不同粒径焦样的片层数(n)分布曲线 Fig. 5 Carbon layers(n)distribution curves of the coke samples with different particle sizes |
焦样粒径为30.20 μm时,n的分布范围是5.0~5.9;焦样粒径为11.48 μm时,n的分布范围是5.1~5.7;焦样粒径为3.80 μm时,n 的分布范围是5.3~5.6;焦样粒径为2.51 μm时,n 的分布范围是5.5左右。随着焦样粉碎时间的延长,n的分布范围逐渐减小,而粒径与粉碎时间成反比关系,因此n的分布范围与粒径成正相关。
将5次测试结果取平均值,焦样粒径为30.20 μm时,n是5.5;焦样粒径为11.48 μm时,n是5.4;焦样粒径为3.80 μm时,n是5.5;焦样粒径为2.51 μm时,n是5.5。平均以后的n差别不大,计算结果准确。在测试过程中,多次测试并且计算取其平均值,消耗过多的人力、财力并不可取。因此为了达到计算结果的准确性,应该尽量将测试焦样的粒径减小,其中粒径为2.51 μm时,5次的测试计算结果基本相同,稳定性好。
3 结 论(1)通过粉碎机对焦样进行粉碎,随着粉碎时间的延长,焦样的粒径逐渐减小,粒径分布逐渐变窄。
(2)在进行XRD测试时,粒径对测试结果有很大的影响,粒径过大时,测量结果波动较大,当粒径粉碎至约2.5 μm时,测量结果稳定,可靠性强。
(3)在焦样的XRD测试中,国标的200目标准粒径过大,会带来测试的波动性,建议将焦样粒径粉碎至2.5 μm以下为宜。
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